Atomkraaft afm Mikroskop
Atomic Force Microscope (AFM), en analytescht Instrument dat benotzt ka ginn fir d'Uewerflächenstruktur vu festen Materialien ze studéieren, dorënner Isolatoren.Et studéiert d'Uewerflächenstruktur an d'Eegeschafte vun enger Substanz andeems se déi extrem schwaach interatomesch Interaktioun tëscht der Uewerfläch vun der Probe fir ze testen an engem Mikro-Kraaft-sensibel Element erkennen.Wäert e puer schwaach Kraaft extrem sensibel Mikro-Cantilever Enn fixéiert ginn, déi aner Enn vun der klenger Tipp no bei der Prouf, da wäert et mat et interagéieren, wäert d'Kraaft der Mikro-Cantilever Deformatioun oder Bewegung Staat Ännerungen maachen.Beim Scannen vun der Probe kann de Sensor benotzt ginn fir dës Ännerungen z'entdecken, kënne mir d'Verdeelung vun der Kraaftinformatioun kréien, fir d'Uewerflächemorphologie vun der Nano-Resolutiounsinformatioun an der Uewerflächenrauheetsinformatioun ze kréien.
★ Integréiert Scannersonde a Probe-Hersch verbessert d'Anti-Interferenzfäegkeet.
★ Präzisioun Laser a Sondepositionéierungsapparat maachen d'Verännerung vun der Sonde an d'Astellung vun der Plaz einfach a praktesch.
★ Duerch d'Benotzung vun der Probesonde Approche Manéier, kann d'Nadel senkrecht zum Probe Scannen.
★ Automatesch Pulsatiounsmotor Drive Kontroll Probe Sonde vertikal Approche, fir präzis Positionéierung vum Scannenberäich z'erreechen.
★ Sample Scannen Beräich vun Interessi konnt fräi geplënnert duerch den Design vun héich Präzisioun Prouf mobilen Apparat benotzt.
★ CCD Observatiounssystem mat opteschen Positionéierung erreecht Echtzäitobservatioun a Positionéierung vum Sondprobe-Scangebitt.
★ Den Design vun elektronesche Kontroll System vun modularization erliichtert Ënnerhalt a kontinuéierlech Verbesserung vun Circuit.
★ D'Integratioun vun Multiple Scannen Modus Kontroll Circuit, kooperéieren mat Software System.
★ Fréijoer Suspension déi einfach a praktesch verstäerkte Anti-Interferenz Fäegkeet.
| Aarbecht Modus | FM-Tapping, fakultativ Kontakt, Reibung, Phase, magnetesch oder elektrostatesch |
| Gréisst | Φ≤90 mm,H≤20 mm |
| Scannenberäich | 20 mm XY-Richtung,2 mm an Z-Richtung. |
| Scannen Resolutioun | 0,2nm an XY Richtung,0,05 nm an Z Richtung |
| Beweegungsberäich vun der Probe | ± 6,5 mm |
| D'Pulsbreet vum Motor kënnt un | 10 ± 2 ms |
| Bild Echantillon Punkt | 256 × 256,512 × 512 |
| Optesch Vergréisserung | 4X |
| Optesch Resolutioun | 2,5 mm |
| Scan Taux | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Scan Wénkel | 0°~360° |
| Scannen Kontroll | 18-Bit D/A an XY Richtung,16-Bit D/A an Z Richtung |
| Daten Echantillon | 14-bitA / D,duebel 16-bëssen A / D Multi-Channel Synchron- Sampling |
| Feedback | DSP digital Feedback |
| Feedback Sampling Taux | 64,0KHz |
| Computer Interface | USB 2.0 |
| Betribssystemer Ëmfeld | Windows 98/2000/XP/7/8 |