Atomkraaftmikroskop
-
Atomkraaft afm Mikroskop
Marque: NANBEI
Modell: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), en analytescht Instrument dat benotzt ka ginn fir d'Uewerflächenstruktur vu festen Materialien ze studéieren, dorënner Isolatoren.Et studéiert d'Uewerflächenstruktur an d'Eegeschafte vun enger Substanz andeems se déi extrem schwaach interatomesch Interaktioun tëscht der Uewerfläch vun der Probe fir ze testen an engem Mikro-Kraaft-sensibel Element erkennen.
