Röntgen Fluoreszenz Spektrometer
Qualitéits- an Technesch Iwwerwaachungsbüro (Ëmweltdirektiv)
RoHS/Rohs (China)/ELF/EN71
Spillsaach
Pabeier, Keramik, Faarwen, Metall, asw.
Elektresch an elektronesch Materialien
Semiconductors, magnetesch Materialien, solder, elektronesch Deeler, etc.
Stol, Net-ferro Metaller
Legierungen, Edelmetaller, Schlacken, Äerz, asw.
chemesch Industrie
Mineralprodukter, chemesch Faseren, Katalysatoren, Beschichtungen, Faarwen, Kosmetik, asw.
Ëmwelt
Buedem, Liewensmëttel, Industrieoffall, Kuel Pudder
Ueleg
Ueleg, Schmieröl, schwéier Ueleg, Polymer, asw.
aner
Beschichtungdickemiessung, Kuel, Archeologie, Materialfuerschung a Forensik, asw.
● Dräi verschidden Zorte vu X-Ray Stralung Sécherheet Systemer, Software interlocks, Hardware interlocks, a mechanesch interlocks, wäert Stralung Leckage komplett eliminéiert ënner all Aarbechtskonditiounen.
● Den XD-8010 huet en eenzegaartegt entworfenen opteschen Wee, deen d'Distanz tëscht der Röntgenquell, der Probe an dem Detektor miniméiert, während d'Flexibilitéit behalen fir tëscht verschiddene Filteren a Kollimatoren ze wiesselen.Dëst verbessert d'Sensibilitéit wesentlech, a reduzéiert d'Detektiounslimit.
● Déi grouss Volumen Probekammer erlaabt datt grouss Proben direkt analyséiert ginn ouni Schued oder Pre-Behandlung.
● Einfach Analyse mat engem Knäppchen mat enger praktescher an intuitiver Software-Interface.Berufflech Ausbildung ass net erfuerderlech fir d'Basis Operatioun vum Instrument ze maachen.
● Den XD-8010 bitt séier Elementaranalyse vun Elementer vu S bis U, mat justierbaren Analysezäiten.
● Bis zu 15 Kombinatioune vu Filteren a Kollimatoren.Filtere vu verschiddenen Dicken a Materialien sinn verfügbar, souwéi Kollimatoren vun Φ1 mm bis Φ7 mm.
● Déi mächteg Berichtformatéierungsfunktioun erlaabt eng flexibel Personnalisatioun vun den automatesch generéierten Analyseberichter.Déi generéiert Berichter kënnen an PDF an Excel Formater gespäichert ginn.D'Analysedaten ginn automatesch no all Analyse gespäichert.Historesch Daten a Statistike kënnen zu all Moment vun engem einfachen Ufro-Interface zougänglech sinn.
● Mat Hëllef vun der Probekamera vum Instrument kënnt Dir d'Positioun vun der Probe relativ zum Fokus vun der Röntgenquell beobachten.Biller vun der Probe gi geholl wann d'Analyse ufänkt a kënnen am Analysebericht ugewise ginn.
● D'Software Spektravergleichstool ass nëtzlech fir qualitativ Analyse a Material Identifikatioun a Verglach.
● Andeems Dir bewisen an effektiv Methoden vun der qualitativer a quantitativer Analyse benotzt, kann d'Genauegkeet vun de Resultater geséchert ginn.
● Déi offen a flexibel Kalibrierungskurve passend Feature ass nëtzlech fir eng Vielfalt vun Uwendungen wéi d'Detektioun vu schiedleche Substanzen.
schiedlech Element Analyse Method
| Geféierlech Substanzen | Beispill | |
| Screening Analyse | Detailléiert Analyse | |
| Hg | Röntgenspektroskopie | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6+ | Röntgenspektroskopie (Analyse vum Gesamt Cr) | Ioneschromatographie |
| PBBs / PBDEs | Röntgenspektroskopie (Analyse vum Gesamt Br) | GC-MS |
Qualitéit Management Prozess
Miessung vu schiedleche Spuerelementer a Polyethylenproben, wéi Cr, Br, Cd, Hg a Pb.
• Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an déi aktuell Wäerter vu Cr, Br, Cd, Hg a Pb.
Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an déi aktuell Wäerter vu Cr, (Eenheet: ppm)
| Prouf | Gitt Wäert | Aktuelle Wäert (XD-8010) |
| Blank | 0 | 0 |
| Prouf 1 | 97,3 | 97,4 |
| Probe 2 | 288 | 309,8 |
| Probe 3 | 1122 | 1107,6 |
Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an aktuell Wäerter vu Br, (Eenheet: ppm)
| Prouf | Gitt Wäert | Aktuelle Wäert (XD-8010) |
| Blank | 0 | 0 |
| Prouf 1 | 90 | 89,7 |
| Probe 2 | 280 | 281,3 |
| Probe 3 | 1116 | 1114.1 |
Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an den aktuellen Wäerter vun Cd, (Eenheet: ppm)
| Prouf | Gitt Wäert | Aktuelle Wäert (XD-8010) |
| Blank | 0 | 0 |
| Prouf 1 | 8.7 | 9.8 |
| Probe 2 | 26.7 | 23.8 |
| Probe 3 | 107 | 107,5 |
D'Differenz vun uginn Wäerter an aktuell Wäerter og Hg, (Eenheet: ppm)
| Prouf | Gitt Wäert | Aktuelle Wäert (XD-8010) |
| Blank | 0 | 0 |
| Prouf 1 | 91,5 | 87,5 |
| Probe 2 | 271 | 283,5 |
| Probe 3 | 1096 | 1089,5 |
Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an déi aktuell Wäerter vu Pb, (Eenheet: ppm)
| Prouf | Gitt Wäert | Aktuelle Wäert (XD-8010) |
| Blank | 0 | 0 |
| Prouf 1 | 93,1 | 91,4 |
| Probe 2 | 276 | 283,9 |
| Probe 3 | 1122 | 1120,3 |
Déi widderholl Miessdaten vu Probe 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Eenheet: ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128,7 | 1118,9 | 110,4 | 1079,5 | 1109,4 |
| 2 | 1126.2 | 1119,5 | 110,8 | 1072,4 | 1131,8 |
| 3 | 1111,5 | 1115,5 | 115,8 | 1068,9 | 1099,5 |
| 4 | 1122.1 | 1119,9 | 110,3 | 1086,0 | 1103,0 |
| 5 | 1115,6 | 1123,6 | 103,9 | 1080,7 | 1114,8 |
| 6 | 1136,6 | 1113.2 | 101.2 | 1068,8 | 1103,6 |
| 7 | 1129,5 | 1112,4 | 105,3 | 1079,0 | 1108,0 |
| Duerchschnëtt | 1124,3 | 1117,6 | 108.2 | 1076,5 | 1110,0 |
| Standarddeviatioun | 8,61 | 4.03 | 4,99 | 6,54 | 10,82 |
| RSD | 0,77% | 0,36% | 4,62% | 0,61% | 0,98% |
Sekundärfilter fir Pb Element (Stahlsubstratproben), Probe: Stahl (Pb 113ppm)
1.Röntgenstrahlung vum primäre Röntgenröhre, gëtt duerch e Kollimator op d'Probe bestraalt.
2.Primär Röntgenexcitatiounseigenschaften vun den Elementer, déi an der Probe Röntgenstrahlen enthale sinn duerch de sekundäre Kollimator an den Detektor
3.Processed duerch den Detektor, bilden Fluoreszenzspektroskopiedaten
4.Computer Spektroskopie Datenanalyse, qualitativ a quantitativ Analyse gëtt ofgeschloss
| Modell | NB-8010 | |
| Analyse Prinzip | Energie dispersiv Röntgenfluoreszenz Analyse | |
| Elementer Range | S (16) | |
| Prouf | Plastik / Metall / Film / Massiv / Flëssegkeet / Pudder, etc., all Gréisst an onregelméisseg Form | |
| Röntgenröhren | Ziel | Mo |
| Tube Spannung | (5-50) kV | |
| Tube aktuell | (10-1000) an anerer | |
| Probe Bestralung Duerchmiesser | F1mm-F7mm | |
| Filter | 15 Sätze vu Kompositfilter ass automatesch ausgewielt, an déi automatesch Konversioun | |
| Detektor | Importer aus den USA Si-PIN Detektor | |
| D'Datenveraarbechtung Circuit Verwaltungsrot | Importer aus den USA, mat d'Benotzung vu Si-PIN Detektorsets | |
| Prouf Observatioun | Mat 300.000 Pixel CCD Kamera | |
| D'Prouf Chamber Gréisst | 490 (L)´430 (W)´150 (H) | |
| Analyse Method | Linear linear, quadratesch Codelinnen, Stäerkt a Konzentratioun Eechung Korrektur | |
| Betribssystem Software | Windows XP, Windows 7 | |
| Donnéeën Gestioun | Excel Datemanagement, Testberichter, PDF / Excel Format gespäichert | |
| Schaffen Ëmwelt | Temperatur: £30°C. Fiichtegkeet £70% | |
| Gewiicht | 55kg vun | |
| Dimensiounen | 550´450´395 | |
| Stroumversuergung | AC 220V±10%, 50/60 Hz | |
| Determinatioun Konditiounen | Atmosphäresch Ëmwelt | |