• head_banner_01

Röntgen Fluoreszenz Spektrometer

Röntgen Fluoreszenz Spektrometer

Kuerz Beschreiwung:

Marque: NANBEI

Modell: Röntgen

D'elektronesch an elektresch Ausrüstungsfeld gezielt vun der RoHS Direktiv, den Autosfeld gezielt vun der ELV Direktiv, a Kanner Spillsaachen, asw., sinn gezielt vun der EN71 Direktiv, déi d'Benotzung vu geféierleche Substanzen a Produkter beschränkt.Net nëmmen an Europa, mä och op weltwäitem Plang ëmmer méi streng.Nanbei XD-8010, mat schneller Analysegeschwindegkeet, héijer Probe Genauegkeet a gudder Reproduktioun Kee Schued, keng Verschmotzung fir d'Ëmwelt.Dës technesch Virdeeler kënnen dës Aschränkungen einfach léisen.


Produit Detailer

Produit Tags

Uwendungen

Qualitéits- an Technesch Iwwerwaachungsbüro (Ëmweltdirektiv)
RoHS/Rohs (China)/ELF/EN71
Spillsaach
Pabeier, Keramik, Faarwen, Metall, asw.
Elektresch an elektronesch Materialien
Semiconductors, magnetesch Materialien, solder, elektronesch Deeler, etc.
Stol, Net-ferro Metaller
Legierungen, Edelmetaller, Schlacken, Äerz, asw.
chemesch Industrie
Mineralprodukter, chemesch Faseren, Katalysatoren, Beschichtungen, Faarwen, Kosmetik, asw.
Ëmwelt
Buedem, Liewensmëttel, Industrieoffall, Kuel Pudder
Ueleg
Ueleg, Schmieröl, schwéier Ueleg, Polymer, asw.
aner
Beschichtungdickemiessung, Kuel, Archeologie, Materialfuerschung a Forensik, asw.

Eegeschaften

● Dräi verschidden Zorte vu X-Ray Stralung Sécherheet Systemer, Software interlocks, Hardware interlocks, a mechanesch interlocks, wäert Stralung Leckage komplett eliminéiert ënner all Aarbechtskonditiounen.
● Den XD-8010 huet en eenzegaartegt entworfenen opteschen Wee, deen d'Distanz tëscht der Röntgenquell, der Probe an dem Detektor miniméiert, während d'Flexibilitéit behalen fir tëscht verschiddene Filteren a Kollimatoren ze wiesselen.Dëst verbessert d'Sensibilitéit wesentlech, a reduzéiert d'Detektiounslimit.
● Déi grouss Volumen Probekammer erlaabt datt grouss Proben direkt analyséiert ginn ouni Schued oder Pre-Behandlung.
● Einfach Analyse mat engem Knäppchen mat enger praktescher an intuitiver Software-Interface.Berufflech Ausbildung ass net erfuerderlech fir d'Basis Operatioun vum Instrument ze maachen.
● Den XD-8010 bitt séier Elementaranalyse vun Elementer vu S bis U, mat justierbaren Analysezäiten.
● Bis zu 15 Kombinatioune vu Filteren a Kollimatoren.Filtere vu verschiddenen Dicken a Materialien sinn verfügbar, souwéi Kollimatoren vun Φ1 mm bis Φ7 mm.
● Déi mächteg Berichtformatéierungsfunktioun erlaabt eng flexibel Personnalisatioun vun den automatesch generéierten Analyseberichter.Déi generéiert Berichter kënnen an PDF an Excel Formater gespäichert ginn.D'Analysedaten ginn automatesch no all Analyse gespäichert.Historesch Daten a Statistike kënnen zu all Moment vun engem einfachen Ufro-Interface zougänglech sinn.
● Mat Hëllef vun der Probekamera vum Instrument kënnt Dir d'Positioun vun der Probe relativ zum Fokus vun der Röntgenquell beobachten.Biller vun der Probe gi geholl wann d'Analyse ufänkt a kënnen am Analysebericht ugewise ginn.
● D'Software Spektravergleichstool ass nëtzlech fir qualitativ Analyse a Material Identifikatioun a Verglach.
● Andeems Dir bewisen an effektiv Methoden vun der qualitativer a quantitativer Analyse benotzt, kann d'Genauegkeet vun de Resultater geséchert ginn.
● Déi offen a flexibel Kalibrierungskurve passend Feature ass nëtzlech fir eng Vielfalt vun Uwendungen wéi d'Detektioun vu schiedleche Substanzen.

de (3)

schiedlech Element Analyse Method

Geféierlech Substanzen Beispill
Screening Analyse Detailléiert Analyse
Hg Röntgenspektroskopie AAS
Pb
Cd
Cr6+ Röntgenspektroskopie (Analyse vum Gesamt Cr) Ioneschromatographie
PBBs / PBDEs Röntgenspektroskopie (Analyse vum Gesamt Br) GC-MS

Qualitéit Management Prozess

de (4)

Applikatioun Beispiller

Miessung vu schiedleche Spuerelementer a Polyethylenproben, wéi Cr, Br, Cd, Hg a Pb.
• Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an déi aktuell Wäerter vu Cr, Br, Cd, Hg a Pb.
Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an déi aktuell Wäerter vu Cr, (Eenheet: ppm)

Prouf Gitt Wäert Aktuelle Wäert (XD-8010)
Blank 0 0
Prouf 1 97,3 97,4
Probe 2 288 309,8
Probe 3 1122 1107,6

Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an aktuell Wäerter vu Br, (Eenheet: ppm)

Prouf Gitt Wäert Aktuelle Wäert (XD-8010)
Blank 0 0
Prouf 1 90 89,7
Probe 2 280 281,3
Probe 3 1116 1114.1

Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an den aktuellen Wäerter vun Cd, (Eenheet: ppm)

Prouf Gitt Wäert Aktuelle Wäert (XD-8010)
Blank 0 0
Prouf 1 8.7 9.8
Probe 2 26.7 23.8
Probe 3 107 107,5

D'Differenz vun uginn Wäerter an aktuell Wäerter og Hg, (Eenheet: ppm)

Prouf Gitt Wäert Aktuelle Wäert (XD-8010)
Blank 0 0
Prouf 1 91,5 87,5
Probe 2 271 283,5
Probe 3 1096 1089,5

 

Den Ënnerscheed vu gegebene Wäerter an déi aktuell Wäerter vu Pb, (Eenheet: ppm)

Prouf Gitt Wäert Aktuelle Wäert (XD-8010)
Blank 0 0
Prouf 1 93,1 91,4
Probe 2 276 283,9
Probe 3 1122 1120,3

 

Déi widderholl Miessdaten vu Probe 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Eenheet: ppm)

Cr Br Cd Hg Pb
1 1128,7 1118,9 110,4 1079,5 1109,4
2 1126.2 1119,5 110,8 1072,4 1131,8
3 1111,5 1115,5 115,8 1068,9 1099,5
4 1122.1 1119,9 110,3 1086,0 1103,0
5 1115,6 1123,6 103,9 1080,7 1114,8
6 1136,6 1113.2 101.2 1068,8 1103,6
7 1129,5 1112,4 105,3 1079,0 1108,0
Duerchschnëtt 1124,3 1117,6 108.2 1076,5 1110,0
Standarddeviatioun 8,61 4.03 4,99 6,54 10,82
RSD 0,77% 0,36% 4,62% 0,61% 0,98%

Sekundärfilter fir Pb Element (Stahlsubstratproben), Probe: Stahl (Pb 113ppm)

de (1)

Aarbecht Prinzip

1.Röntgenstrahlung vum primäre Röntgenröhre, gëtt duerch e Kollimator op d'Probe bestraalt.
2.Primär Röntgenexcitatiounseigenschaften vun den Elementer, déi an der Probe Röntgenstrahlen enthale sinn duerch de sekundäre Kollimator an den Detektor
3.Processed duerch den Detektor, bilden Fluoreszenzspektroskopiedaten
4.Computer Spektroskopie Datenanalyse, qualitativ a quantitativ Analyse gëtt ofgeschloss

de (2)

Technesch Parameteren

Modell NB-8010
Analyse
Prinzip
Energie dispersiv Röntgenfluoreszenz
Analyse
Elementer Range S (16)U (92) all Element
Prouf Plastik / Metall / Film / Massiv /
Flëssegkeet / Pudder, etc., all Gréisst an onregelméisseg Form
Röntgenröhren Ziel Mo
Tube Spannung (5-50) kV
Tube aktuell (10-1000) an anerer
Probe Bestralung
Duerchmiesser
F1mm-F7mm
Filter 15 Sätze vu Kompositfilter ass
automatesch ausgewielt, an déi automatesch Konversioun
Detektor Importer aus den USA
Si-PIN Detektor
D'Datenveraarbechtung
Circuit Verwaltungsrot
Importer aus den USA, mat
d'Benotzung vu Si-PIN Detektorsets
Prouf
Observatioun
Mat 300.000 Pixel CCD Kamera
D'Prouf Chamber
Gréisst
490 (L)´430 (W)´150 (H)
Analyse Method Linear linear, quadratesch Codelinnen,
Stäerkt a Konzentratioun Eechung Korrektur
Betribssystem
Software
Windows XP, Windows 7
Donnéeën Gestioun Excel Datemanagement, Testberichter,
PDF / Excel Format gespäichert
Schaffen
Ëmwelt
Temperatur: £30°C. Fiichtegkeet £70%
Gewiicht 55kg vun
Dimensiounen 550´450´395
Stroumversuergung AC 220V±10%, 50/60 Hz
Determinatioun
Konditiounen
Atmosphäresch Ëmwelt

  • virdrun:
  • Nächste:

  • Schreift äre Message hei a schéckt en un eis

    Produit Kategorien